SOC 电源管理芯片(PMIC)功能及测试

关键词:SOC 电源管理PMIC

时间:2026-4-9 09:14:59      来源:网络

在现代电子系统中,电源管理芯片(PMIC)作为 SoC 的关键配套器件,承担着电源分配、电压调节、功耗控制等多项任务。对于 ATE(自动测试设备)工程师而言,PMIC 的测试不仅关乎芯片本身的性能验证,更是保障整机稳定运行的基础。本文将从应用背景与功能出发,深入探讨 PMIC 的测试内容与挑战,并介绍 Advantest 如何在最新的 V93000 EXA-Scale 平台中,利用XPS256板卡应对这些挑战。

在现代电子系统中,电源管理芯片(PMIC)作为 SoC 的关键配套器件,承担着电源分配、电压调节、功耗控制等多项任务。对于 ATE(自动测试设备)工程师而言,PMIC 的测试不仅关乎芯片本身的性能验证,更是保障整机稳定运行的基础。本文将从应用背景与功能出发,深入探讨 PMIC 的测试内容与挑战,并介绍 Advantest 如何在最新的 V93000 EXA-Scale 平台中,利用XPS256板卡应对这些挑战。

一、 SOC 电源管理芯片(PMIC)的应用背景与主要功能

随着智能手机、可穿戴设备、汽车电子等领域对集成度和能效的要求不断提升,SoC(System on Chip)架构日益复杂,内部集成了 CPU、GPU、DSP、AI 加速器等多个模块。这些模块对供电的要求各不相同,PMIC 的角色也愈发重要。PMIC 的主要功能包括:

· 多路电源输出管理:通过集成多个 LDO(低压差稳压器)和 DCDC(电压转换器),为不同模块提供稳定电压。

· 动态电压频率调节(DVFS):根据负载变化动态调整输出电压/开关频率,实现节能。

· 电源时序控制:确保各模块按顺序启动,避免系统异常。

· 电池管理功能:包括充电控制、热保护、电量计量等。

· 保护机制:如过压、过流、过温保护,提升系统可靠性。

此外,现代 PMIC 通常采用 I²C 或 SPI 接口与主控通信,支持寄存器配置,实现灵活的电源策略。

以 TI 的 TPS6593-Q1 为例,包含了以上提到的主要PMIC模块:

1-1 典型的PMIC芯片模块示意图

二、 PMIC 芯片的测试内容及挑战

从 ATE 工程师的角度来看,PMIC 的测试覆盖模拟、数字、功率等多个维度,测试内容复杂,挑战颇多。主要测试项目包括:

1. 电压精度与稳定性测试

· LDO/DCDC 输出电压精度:需在不同负载条件下验证输出电压是否在规格范围内。

· 负载响应测试:模拟负载突变,观察电压恢复时间与波动范围。

· 纹波与噪声测试:使用高精度模块测量输出纹波,评估电源质量。

2. 功率效率与热性能测试

· 转换效率测试:测量输入输出功率比,评估 DCDC 的能效。

· 热保护功能验证:通过升温或模拟热源触发过温保护,验证其响应机制。

3. 通信与寄存器功能测试

· I²C/SPI 通信测试:验证通信稳定性、时序正确性、寄存器读写功能。

· 寄存器配置测试:检查不同配置下的电源行为是否符合预期。

4. 时序与启动测试

· 电源启动顺序测试:通过时序测量模块(TMU),验证各路电源的启动时间与顺序。

· 软启动功能验证:确保电压上升斜率符合规范,避免冲击电流。

5. 保护机制测试

· 过压/欠压保护:施加异常电压,验证芯片是否能及时关闭输出。

· 过流保护:模拟短路或大电流负载,观察保护响应。

· 热关断测试:在高温环境下运行,验证芯片是否能安全关断。

测试挑战:

· 多通道并发测试:PMIC 通常有十几路输出,需设计高并发测试方案,避免测试时间过长。

· 高精度测量需求:精度要求高(±1%甚至更严),部分参数如纹波、噪声要求更高,需选用高精度ADC。

· 功率器件测试安全性:高电流测试需注意设备保护与操作安全。

在这样的背景下,如何选择合适的平台实现高并发、高精度、全闭环监控的 PMIC 测试?业界的先进 ATE 方案又是如何应对这些痛点的?

在下篇内容中,我们将深入解析 Advantest V93000 EXA‑Scale 平台与 XPS256 板卡的核心优势,探讨其如何在资源、精度、安全性等方面,为 PMIC 测试提供一体化的解决方案。欢迎继续阅读下篇,共同走进 PMIC 高效测试的“武器库”。

在上一部分,我们从功能与测试需求出发,梳理了 PMIC 在实际测试中面临的复杂场景与关键挑战。随着技术不断演进,ATE 工程师需要更灵活、更精确、更高安全裕度的测试平台,以适应多路输出、动态响应、高精度测量及并发功率需求的全面提升。

基于此,业界领先的 Advantest V93000 EXA‑Scale 平台,以及其核心电源板卡 XPS256,成为 PMIC 测试场景中的重要推动力量。本篇将围绕其资源配置、测量能力以及安全防护机制等方面展开,深入探讨它如何助力工程师从容应对 PMIC 测试的多维挑战。

三、 基于 V93000 EXA-Scale 平台,利用XPS256 板卡测试PMIC的优势

XPS256 是 ADVANTEST 基于 V93000 EXA-Scale 先进测试平台开发的通用电源板卡,在测试资源,测量精度,功率预算 等方面具有显而易见的优势。

3-1 基于V93000 EXA-Scale 的XPS256板卡

1. 充沛的测试资源,应对高并发

· XPS256 提供256个独立的测试通道

· 每个通道支持 -2.5 V ... +7.0 V 的电压输出,最大 1A 电流(支持 全4象限 电压电流源)

· 通道可自由分配功率预算,全板卡支持 256A @2V 的输出

· 支持灵活的通道并联(Ganging),进一步提高输出功率。(如下图)

3-2 XPS256 板卡通道的并联灵活性

2. 精确的测量单元,满足严标准

· 施加或测量电压时,精度最高可达 150uV

· 施加或测量电压时,精度最高可达 50nA

· 波形发生器(AWG)/示波器(DGT) 最大速率可达 2Msps,电压电流均支持

3-3 XPS256板卡的激励和测量单元示意图

3. 可靠的安全保护,守护全流程

· 全域 Background DC Profiling 功能,赋予了 XPS256 监控 测试/生产过程中可能的 功率隐患。

强大的 DC Profiling 支持最高采样速率 2Msps,带宽 500KHz,提供示波器级别的测量精度,不需要外接其它仪器。对于厂家的隐患,例如不平衡的通道并连(Ganging)电流,Probe 针卡老化导致电流增大等,均可有效追踪,避免测试设备和芯片损坏。下图完美展示了DC Profiling 优异的性能:

3-4 XPS256与示波器快速电压捕捉瞬态对比

3-5 XPS256与传统DPS板卡快速电流捕捉瞬态对比

独立ADC 的架构赋予了 XPS256 板卡DC Profiling 同时检测电压/电流/压降的能力,并且真正实现了对测试流程的 后台全覆盖,时间零开销。下图展示了同时对3要素的全流程,无死角记录:

3-6 XPS256板卡DC Profiling全流程采集能力

此外,用户还可以在任意关心的区间,插入 Background DC Profiling,选择不同的触发模式,灵活地实现问题追踪。

· 快速而精准的动态电压/电流钳位,百us级别的响应速度,稳定脉冲功率需求;对于不合理的电压电流脉冲,板卡会自动触发Alarm,必要时自行断开,确保硬件安全;此外,上下电时序/斜率也可通过程序严格约束,进一步降低测试风险。

四、随着 SoC 架构的持续演进,电源管理芯片(PMIC)在系统稳定性与能效优化中的作用愈发关键。对于 ATE 工程师而言,PMIC 的测试不仅是技术挑战,更是保障产品质量的核心环节。借助 Advantest V93000 EXA-Scale 平台及 XPS256 板卡,我们能够在高并发、高精度、高安全性的测试需求下,实现对 PMIC 的全面验证。未来,随着电源管理技术的不断发展,测试方案也将持续迭代升级,为智能终端的可靠运行提供坚实保障。

猜你喜欢