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第10讲:SiC的加工工艺(2)栅极绝缘层

关键词:SiC 三菱电机

时间:2024-11-28 11:04:47      来源:网络

SiC可以通过与Si类似的热氧化过程,在晶圆表面形成优质的SiO2绝缘膜。这在制造SiC器件方面具有非常大的优势。在平面栅SiC MOSFET中,这种热氧化形成的SiO2通常被用作栅极绝缘膜,并已实现产品化。然而,SiC的热氧化与Si的热氧化存在一些差异,在将热氧化工艺应用于SiC器件时必须考虑到这一点。

栅极氧化层可靠性是SiC器件应用的一个关注点。本节介绍SiC栅极绝缘层加工工艺,重点介绍其与Si的不同之处。

SiC可以通过与Si类似的热氧化过程,在晶圆表面形成优质的SiO2绝缘膜。这在制造SiC器件方面具有非常大的优势。在平面栅SiC MOSFET中,这种热氧化形成的SiO2通常被用作栅极绝缘膜,并已实现产品化。然而,SiC的热氧化与Si的热氧化存在一些差异,在将热氧化工艺应用于SiC器件时必须考虑到这一点。

首先,与Si相比,SiC的热氧化速率低。因此,该过程需要很长时间,而且还需要高温。在SiC的热氧化中,考虑高温工艺下装置的负荷是不可缺少的。此外,SiC的热氧化速率具有很大的各向异性,取决于晶体表面。热氧化速率通常在(0001)Si面最慢,在(0001(—))C面最快。例如,在制作沟槽栅SiC MOSFET时,为了在与Si面与C面正交的面上形成栅极氧化膜,需要利用CVD氧化膜等对策。关于热氧化的气氛,可以使用水蒸气和干氧气,两者比较,水蒸气气氛的氧化速率更大,与Si相同。由于气氛气体影响SiC/SiO2界面的电子、空穴陷阱的形成,因此需要注意气氛气体的选择。另外,关于构成SiC的碳,在热氧化中以CO或者CO2的形式从SiO2脱离。已知SiC热氧化形成的SiO2除了在SiC/SiO2界面附近之外,碳残留非常少。对于SiC,在适当条件下形成的热氧化SiO2的绝缘击穿场强与Si的热氧化SiO2相比,得到了相同或更好的值,不存在与电气绝缘性能相关的本质性问题。

SiC与Si的热氧化膜的最大不同之处在于,SiC在SiC/SiO2界面上形成了许多电子、空穴陷阱。SiC/SiO2界面上的陷阱会对器件性能产生负面影响,例如增加MOSFET导通时的电阻,导致电气特性随时间变化。因此,进行了许多降低界面陷阱密度的尝试。其中,在NO、N2O等氮化气体气氛中,进行SiC/SiO2界面的退火处理是一种已经被广泛使用的方法,能够大幅改善MOSFET的SiC/SiO2界面电子的有效迁移率。进行该氮化退火处理时的温度需要与热氧化过程相同或更高的温度,需要与高温对应的退火处理装置。电子和空穴陷阱的起源被认为是涉及碳残留的复合缺陷,但仍有争议。另外,许多机构正在进行进一步降低陷阱密度的研究和开发。

关于SiC/SiO2界面陷阱对MOSFET的影响,对三菱电机制造的平面栅SiC MOSFET实施栅极电压应力试验(HTGB试验),结果如图1所示。测试温度设为150℃,在栅极和源极之间持续施加20V或-20V时,观察阈值电压的变化。测试的所有MOSFET,无论施加栅极电压的正、负,阈值电压的变动量都很小,稳定性非常好。表1汇总了施加1000小时栅极电压后导通电阻和阈值电压的变化量。与阈值电压一样,导通电阻的变动量也很小,不成问题。


图1(a):在高温(150℃)、长时(1000hr)施加栅极电压(HTGB试验),SiC MOSFET栅极阈值电压随时间变化(栅极电压为20V时)


图1(b):在高温(150℃)、长时(1000hr)施加栅极电压(HTGB试验),SiC MOSFET栅极阈值电压随时间变化(栅极电压为-20V时)


表1:SiC MOSFET施加栅极电压测试后导通电阻、阈值电压变化量

近年来,将高频交流电压施加到SiC MOSFET的栅极时,阈值电压等电特性的经时偏移引起了人们的关注。这是一种在时间上逐渐发生特性漂移的现象,与电压扫描中常见的滞回特性不同,这是由于存在于SiC/SiO2界面处的陷阱捕获、释放电荷。在漂移量大的情况下,在实用中有可能产生问题,所以有时候应用侧对长期可靠性表示担忧。图2表示对SiC MOSFET的栅极施加高频AC偏压时阈值电压的经时变化。三菱电机的SiC MOSFET,阈值电压的漂移量小、稳定性好,与其他公司产品(A公司)相比,有较大的差异。


图2:SiC MOSFET栅极施加高频AC应力时的阈值电压变化

在SiC MOSFET中,栅极施加偏置电压时电气特性的不稳定现象,有时也令人担忧,至今已有各种报告,处于稍微混乱的状况。MOSFET栅极相关特性的稳定性很大程度上依赖于栅极绝缘膜的制作方法、元件结构、驱动条件等。另外,导通电阻的降低和特性的稳定性不一定能并存。为了得到低电阻、特性稳定的SiC MOSFET,需要基于大量的经验、数据,对工艺、结构进行最优化。三菱电机SiC MOSFET的栅极特性已在各种应用系统中进行了评估,显示其稳定性非常好,是其主要优势之一。

关于三菱电机

三菱电机创立于1921年,是全球知名的综合性企业。截止2024年3月31日的财年,集团营收52579亿日元(约合美元348亿)。作为一家技术主导型企业,三菱电机拥有多项专利技术,并凭借强大的技术实力和良好的企业信誉在全球的电力设备、通信设备、工业自动化、电子元器件、家电等市场占据重要地位。尤其在电子元器件市场,三菱电机从事开发和生产半导体已有68年。其半导体产品更是在变频家电、轨道牵引、工业与新能源、电动汽车、模拟/数字通讯以及有线/无线通讯等领域得到了广泛的应用。

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